QPSI-Technologie

Animierter Vergleich einer PSI-Messung mit streifenförmigen Messartefakten aufgrund von Schwingungen und die gleiche Oberfläche nach einer Messung mit QPSI™ Technologie – ohne streifenförmige Messartefakte.

ZYGOs patentierte QPSI™-Technologie ist ein echter Durchbruch bei der optischen Präzisionsprüfung – sie eliminiert Rauschen und Wellen aufgrund geringer Schwingungen bei Phasendaten und liefert so zuverlässige Daten, welche bei herkömmlichen PSI-Messungen verrauscht wären. QPSI-Messungen erfordern keine spezielles Setup oder Kalibrierung und die Zykluszeiten sind üblicherweise identisch mit denen standardmäßiger PSI-Messungen.

QPSI ist exklusiv bei ZYGO verfügbar und Teil der Standardausstattung bei den Produkten Verifire, DynaFiz, Verifire HD, Verifire MST sowie vielen Infrarot-Interferometern und Interferometer-Systemen mit großer Apertur. Diese Systeme sind benutzerfreundliche, axiale Common-Path-Fizeau-Interferometer – der Branchenstandard für zuverlässige Messtechnik – was sie zur ersten Wahl für die meisten Messungen der Oberflächenform und übertragenen Wellenfront von Optiken macht.

 
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Ein Interferometer von ZYGO mit QPSI-Technologie ermöglicht zuverlässige und hochpräzise Messungen bei Schwingungen durch Motoren, Pumpen, Gebläse und Personal.

Die patentierte, axiale Phasenverschiebungserfassung wird durch einzigartige Software-Algorithmen sowie den von ZYGO gefertigten HeNe-Laser ermöglicht, der je nach Hauptgerät mehr Leistung zur Überwindung von Schwingungen bereitstellt.

Hauptmerkmale:

  • Eliminiert Wellen und vibrationsbedingte streifenförmige Messartefakte
  • Hochpräzise Messungen wie bei der Phasenverschiebungsinterferometrie (PSI)
  • Ohne Kalibrierung oder Änderungen Ihrer Konfiguration
  • Einfache Aktivierung/Deaktivierung mit einem Mausklick
  • In allen Standardinterferometern von ZYGO enthalten
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Messung asphärischer Oberflächen
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
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Prüfung mit streifendem Einfall
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Interferogramm-Skalierfaktor
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Silbernes Beschichtungs-Spray
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
Titel
Dokument
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Messung asphärischer Oberflächen
DocumentAN-0007
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
DocumentAN-0008
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Prüfung mit streifendem Einfall
DocumentAN-0010
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Interferogramm-Skalierfaktor
DocumentAN-0015
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Silbernes Beschichtungs-Spray
DocumentAN-0016
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
DocumentAN-0019
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Prüfung zylindrischer Optiken
DocumentAN-0020
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MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
DocumentAN-0021
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
Titel
Dokument
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
DocumentTechnische Abhandlung
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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