Verifire™ XL
Nach unten gerichtetes Interferometer mit großer Apertur
Große Apertur, geringer Platzbedarf – Das Verifire XL ist eine schlüsselfertige Interferometer-Workstation für die problemlose Prüfung planer Optiken mit bis zu 300 mm Durchmesser.
Dieses vollständig integrierte System ist benutzerfreundlich und mit einem robusten Probentisch mit Kipp-/Neigungsfunktion ausgestattet, der die wiederholbare Probenplatzierung ohne spezielle Halterungen ermöglicht.
Das kompakte Gerät mit integrierter Schwingungsisolierung und Controller-Monitorständer benötigt minimale Stellfläche in der Produktionsumgebung.
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Eigenständige Workstation mit großer Apertur zum Messen der Form von optischen Planflächen bis zu 300 mm (12 Zoll) im Durchmesser, wie z. B. Spiegel, Fenster, Halbleiter-Wafer, Wafer-Aufspannvorrichtungen und Blockflächen.
Hauptmerkmale
- Nach unten ausgerichtete 300-mm-Apertur (12 Zoll) für eine einfache Teilehandhabung und -ausrichtung
- Betriebsbereites, eigenständiges System mit Interferometer-Hauptgerät, passivem Schwingungsisoliersystem, Teileausrichtungstisch und Messobjektiv (TF) mit 1/15 PVr
- Kompakte Stellfläche für minimalen Platzbedarf
- Integrierte Schwingungsisolierung und QPSI™ Technologie für zuverlässige Messungen in Produktionsumgebungen
Laser Interferometers
Laser Interferometers
Verifire™ XL
Laser Interferometer Accessory Guide
Interactive Transmission Sphere Selector
Interferogram Interpretation and Evaluation Guide
Transmission Sphere Selection Guide
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Interferogram Interpretation and Evaluation Guide
DocumentReference Guide
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Messung asphärischer Oberflächen
Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
Prüfung mit streifendem Einfall
Interferogramm-Skalierfaktor
Silbernes Beschichtungs-Spray
Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
Prüfung von finit konjugierten Linsen
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
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Verifire™ MST 633 nm
Verifire™ 633 nm MST Plus, HD MST, HDX MST
Verifire™ MST 1550 nm
Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
Titel
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
DocumentTechnische Abhandlung
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DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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