Verifire™ HD/HDX

Mittlere Ortsfrequenz-Charakterisierung mit klassenbester Auflösung und ITF

Verifire HDX-Interferometer-SystemDie Auflösung von Interferometern wurde maximal ausgereizt. Die Interferometer-Systeme Verifire HD und Verifire HDX bieten eine unerreichte mittlere Ortsfrequenz-Charakterisierung optischer Oberflächen.  Dem System einfach mehr Pixel hinzuzufügen reicht nicht aus – es ist ein rigoroses optisches Design erforderlich, um die pixelbegrenzte Performance des Interferometers sicherzustellen und die Oberflächendetails zu erfassen, welche für die anspruchsvollsten Anwendungen benötigt werden.  ZYGOs firmeneigene Charakterisierungsmethoden für die Instrumentenübertragungsrate (ITF) gewährleisten, dass Performance und Design die für Ihre Anwendung erforderlichen Möglichkeiten bieten.

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Verifire™ HD und Verifire™ HDX von ZYGO wurden speziell für die Charakterisierung von optischen Hochleistungskomponenten und -systemen im mittleren Ortsfrequenzbereich entworfen und gebaut.  QPSI und der von ZYGO gefertigte, haltbare und stabilisierte Laser gehören zusammen mit erstklassiger Bildgebung und Auflösung für eine hohe Instrumentenübertragungsrate (ITF) sowie einer überragenden Charakterisierung von Inhalten im mittleren Ortsfrequenzbereich und Oberflächenabweichungen mit starker Neigung zur Standardausstattung.

Hauptmerkmale

  • Kameraauflösung von 5,3 Megapixeln (Verifire™ HD) und 11,6 Megapixeln (Verifire™ HDX), unterstützt durch präzise optische Designs und geprüft durch urheberrechtlich geschützte ITF-Qualifikationsverfahren von ZYGO.
  • QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, für zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen
  • Von ZYGO gefertigte HeNe-Laserquelle
    • Längere Lebensdauer als kommerziell erhältliche Laser mit 60.000 Stunden Laufzeit und einer 3-Jahres-Garantie!
    • Höhere Leistung für verbesserte Schwingungsleistung und Anwendungen mit geringer Beleuchtung
    • Bis 0,0001 nm stabilisierte Wellenlänge
  • Optionale DynaPhase® Sofortdatenerfassung für schwingungsunempfindliche Messungen in den schwierigsten Umgebungen
  • Das System zur kohärenten Artefaktunterdrückung (CARS – Coherent Artifact Reduction System) eliminiert verzerrende Mittelpunkte in internen Artefakten und verringert das kohärente Rauschen in Messungen um das bis zu 10-Fache.
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Messung asphärischer Oberflächen
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
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Prüfung mit streifendem Einfall
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Interferogramm-Skalierfaktor
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Silbernes Beschichtungs-Spray
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
Titel
Dokument
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Messung asphärischer Oberflächen
DocumentAN-0007
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
DocumentAN-0008
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Prüfung mit streifendem Einfall
DocumentAN-0010
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Interferogramm-Skalierfaktor
DocumentAN-0015
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Silbernes Beschichtungs-Spray
DocumentAN-0016
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
DocumentAN-0019
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Prüfung zylindrischer Optiken
DocumentAN-0020
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MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
DocumentAN-0021
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Bedienungsanleitung Verifire™ HD und HDX
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Leitfaden zur Schnelleinrichtung von Laser-Interferometern
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Auswahlleitfaden für Messobjektive
Titel
Dokument
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Bedienungsanleitung Verifire™ HD und HDX
DocumentOMP-0597E
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
DocumentInterEval.pdf
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0463AM
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0634A
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0635A
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0598A
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Leitfaden zur Schnelleinrichtung von Laser-Interferometern
DocumentOMP-0584A
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Auswahlleitfaden für Messobjektive
DocumentTS_Selection.pdf
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Messobjektivauswahl (interaktives Excel®-Dokument)
DocumentOMP-0495E
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
DocumentTechnische Abhandlung
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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