Verifire Asphere+
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Asphärische Optiken ermöglichen erhebliche Vorteile bei der Entwicklung und Implementierung von Bildgebungs-, Sensor- und Lasersystemen, die in Branchen wie Verteidigung, Luft- und Raumfahrt, Halbleiterbelichtungs- und -inspektionssystemen und medizinischen Bildgebungssystemen eingesetzt werden. Die Herstellung von Asphären, die diese Anwendungen unterstützen, hängt von der Präzisionsmesstechnik ab. Denn wenn es um asphärische Optik geht, kann man nicht herstellen, was man nicht messen kann Das Verifire Asphere+ (VFA+) nutzt die Vorteile der Fizeau-Interferometrie und bietet eine einzigartige Kombination aus präziser, hochauflösender, schneller und vollständiger Aperturmessung für achsensymmetrische Asphären. |
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Das VFA+ bietet eine flexible Messplattform zur Messung einer Reihe von achsensymmetrischen Asphären mit nur einem Wechsel der Transmissionskugel. Das VFA+ ist mit einem optionalen Sekundärtisch ausgestattet, der ein computergeneriertes Hologramm (CGH) unterstützt und die Asphärenform-Fähigkeit auf unsymmetrische Freiformen und achsenferne asphärische Optiken erweitert.
NEU! Der Schwerpunkt liegt auf der Verbesserung der Benutzerfreundlichkeit. So können Sie ganz einfach neue Messungen einrichten, durch Messdaten und -ergebnisse navigieren und Produktionsprobleme diagnostizieren. Die Mx™ Software ermöglicht effiziente F&E- und Prototyping-Phasen und verbessert Produktionsanwendungen durch einfache Einrichtungs-, Ausrichtungs- und Messfunktionen mit nur einem Klick.
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Das Verifire™ MST ermöglicht hochpräzise Messungen der Oberflächenform und übertragenen Wellenfront von optischen Komponenten und Linsensystemen. Es ist das einzige kommerzielle Interferometer, das mehrere Oberflächen gleichzeitig messen kann, dabei die relativen Oberflächeninformationen beibehält und schnelle sowie einfache Ergebnisse von mehreren Oberflächen bereitstellt.
Hauptmerkmale
- Gleichzeitige Charakterisierung von Oberfläche und Wellenfront sowie präzise Oberflächen-zu-Oberflächen-Messung wie TTV und Keil
- Oberflächen- und Dickequalifizierung von Testteilen bis zu einer minimalen Stärke von 0,5 mm
- Große laterale Auflösung, einschließlich pixelbegrenzten Designs für eine optimale ITF
- 1,2k × 1,2k (mit diskretem Zoomrevolver für optischen Zoom bis 3X)
- 2,3k × 2,3k
- 3,4k × 3,4k
- In Betriebswellenlängen von 633 nm bis 1,053 µm, 1,064 µm und 1,55 µm erhältlich
- Die QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, ermöglicht zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen und ist für die Erfassung mit Wellenlängenverschiebung und FTPSI auf mehreren Oberflächen erhältlich.
- Das standardmäßig enthaltene Artefaktverringerungssystem eliminiert verzerrende Mittelpunkte und reduziert kohärentes Rauschen.
