Verifire™

Das Arbeitsmittel für Messtechnik in der Optikwerkstatt

Verifire Laser-Interferometer-System
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Das Interferometer-System Verifire™ bietet schnelle und zuverlässige Messungen des Oberflächenformfehlers und der übertragenen Wellenfront von optischen Komponenten, Systemen und Baugruppen.

Als echtes Fizeau-Laserdesign basiert das Verifire™-System auf ZYGOs unvergleichlicher Erfahrung bei Oberflächenmessung. Die von ZYGO gefertigte HeNe-Laserquelle erlaubt in Kombination mit ZYGOs patentierten Erfassungsalgorithmen und der komplett ausgestatteten Mx™-Messsoftware hochpräzise Messungen mit benutzerfreundlichen Analysefunktionen.

Zuverlässige Messtechnik im Fertigungsbereich

Die Technologe für optische Messungen hat sich in den letzten Jahren deutlich weiterentwickelt.  In der Vergangenheit mussten Umwelteinwirkungen sorgsam kontrolliert werden, um zuverlässige Messungen zu erhalten.  Heute bietet ZYGO Technologien an, welche zuverlässige Messungen in rauen Umgebungen ermöglichen, in denen Schwingungen und Luftturbulenzen herkömmliche optische Messungen schwierig oder sogar unmöglich machen.

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Animierter Vergleich einer PSI-Messung mit streifenförmigen Messartefakten aufgrund von Schwingungen und die gleiche Oberfläche nach einer Messung mit QPSI™ Technologie – ohne streifenförmige Messartefakte.

Oberflächenform- und Flachheitsmessung von optischen Komponenten sowie der Wellenfront von optischen Systemen und Unterbaugruppen wie Fenstern, Spiegeln, Linsen, Prismen und sogar präzisionsgefertigten Metall- und Keramikoberflächen.

Zur Standardausstattung gehören die schwingungsresistente QPSI-Erfassung, die funktionsumfassende Mx™ Software für leistungsstarke und dennoch einfach durchzuführende Messungen, Analysen und Automatisierungen sowie eine beispiellose 3-Jahres-Garantie auf die von ZYGO gefertigte HeNe-Laserquelle.

Hauptmerkmale

  • Von ZYGO gefertigte HeNe-Laserquelle
    • Längere Lebensdauer als kommerziell erhältliche Laser mit 60.000 Stunden Laufzeit und einer 3-Jahres-Garantie!
    • Höhere Leistung für verbesserte Schwingungsleistung und Anwendungen mit geringer Beleuchtung
    • Bis 0,0001 nm stabilisierte Wellenlänge
  • QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, für zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen
  • Stufenlos variabler optischer Zoom von 1- bis 5-facher Vergrößerung
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Messung asphärischer Oberflächen
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
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Prüfung mit streifendem Einfall
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Interferogramm-Skalierfaktor
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Silbernes Beschichtungs-Spray
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
Titel
Dokument
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Messung asphärischer Oberflächen
DocumentAN-0007
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
DocumentAN-0008
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Prüfung mit streifendem Einfall
DocumentAN-0010
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Interferogramm-Skalierfaktor
DocumentAN-0015
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Silbernes Beschichtungs-Spray
DocumentAN-0016
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
DocumentAN-0019
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Prüfung zylindrischer Optiken
DocumentAN-0020
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MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
DocumentAN-0021
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Bedienungsanleitung Verifire™
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Verifire IR 1,06 µm
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Verifire IR 3,39 µm
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
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Leitfaden zur Schnelleinrichtung von Laser-Interferometern
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Auswahlleitfaden für Messobjektive
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Messobjektivauswahl (interaktives Excel®-Dokument)
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Mx™-Kurzanleitung
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Mx™-Referenzleitfaden
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
Titel
Dokument
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Bedienungsanleitung Verifire™
DocumentOMP-0604E
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Verifire IR 1,06 µm
DocumentOMP-0627A
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Verifire IR 3,39 µm
DocumentOMP-0629A
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
DocumentInterEval.pdf
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0463AM
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0634A
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0635A
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Zubehörleitfaden für Laser-Interferometer
DocumentOMP-0598A
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Leitfaden zur Schnelleinrichtung von Laser-Interferometern
DocumentOMP-0584A
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Auswahlleitfaden für Messobjektive
DocumentTS_Selection.pdf
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Messobjektivauswahl (interaktives Excel®-Dokument)
DocumentOMP-0495E
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Mx™-Referenzleitfaden
DocumentOMP-0550D
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
DocumentOMP-0600A
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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DocumentTechnische Abhandlung
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DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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