Systeme mit großer Apertur

Erweiterte Aperturen für die Messung großformatiger Optiken

Interferometrisches System mit 24" großer Apertur
Interferometrisches System mit 24" großer Apertur

ZYGO-Geräte zur Strahlaufweitung auf horizontaler Ebene erhöhen die native Apertur eines 4”-Interferometers auf 12”, 18”, 24” oder sogar 32”, um eine präzise Interferometrie großformatiger Optiken sowie die Qualifizierung optischer Systeme zu ermöglichen.

Horizontale Systeme mit großer Apertur bieten die einzigartige Fähigkeit, zwei unabhängige Messkanäle zu nutzen; einen mit der nativen 4”-Apertur des Interferometers und einen anderen mit einem erweiterten Strahl von bis zu 32”, wodurch die Flexibilität von zwei Interferometern in einem Gerät erreicht wird.  Bei Konfiguration mit geeignetem Zubehör können die Systeme mit großer Apertur zur Messungen sowohl der Oberflächenform als auch der übertragenen Wellenfront genutzt werden.

  • WEITERE INFORMATIONEN
  • BROSCHÜREN &
    DATENBLÄTTER
  • ANWENDUNGS-
    HINWEISE
  • HANDBÜCHER
  • TECHNISCHE ABHANDLUNGEN
  • VIDEOS
Interferometrisches System mit 32" großer Apertur
Interferometrisches System mit 32" großer Apertur

Strahlaufweitungen von ZYGO werden auf der ganzen Welt bereitgestellt, um die anspruchsvollsten und präzisesten Anwendungen für die Messung von großen Optiken zu bedienen.  Jahrzehntelange Erfahrung in der Entwicklung von Strahlaufweitungen und der internen Produktion von wichtigen Komponenten wie superpräzisen Planmessplatten garantiert, dass Ihre Anwendungsbedürfnisse erfüllt und auch in Zukunft unterstützt werden.

Die Komponenten des Systems mit großer Apertur können getrennt vom Interferometer-Hauptgerät erworben werden. Kontaktieren Sie Ihren ZYGO Vertriebsbeauftragten vor Ort, um Hilfe beim Konfigurieren des Systems entsprechend Ihren Messanforderungen zu erhalten.

Hauptmerkmale

  • Erweiterte Aperturen 12”, 18”, 24” und 32”
  • 4”-Dualkanal und verlängerter Standfuß für zusätzliche Flexibilität bei großen und kleinen Aperturen
  • Für hohe Auflösung konzipierte Strahlaufweitung; behält die ITF für interferometrische Systeme bis zu 3,4k × 3,4k bei
  • Unterstützung von schwingungsresistenter QPSI-Erfassung
  • In Betriebswellenlängen von 633 nm bis 1,55 µm erhältlich
  • Optisches und mechanisches Zubehör für jede Apertur, einschließlich Referenzoptiken bis λ/25 PVr
img1
Messung asphärischer Oberflächen
img1
Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
img1
Prüfung mit streifendem Einfall
img1
Interferogramm-Skalierfaktor
img1
Silbernes Beschichtungs-Spray
img1
Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
img1
Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
img1
Prüfung von finit konjugierten Linsen
Titel
Dokument
Herunterladen
Messung asphärischer Oberflächen
DocumentAN-0007
Herunterladen Herunterladen
Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
DocumentAN-0008
Herunterladen Herunterladen
Prüfung mit streifendem Einfall
DocumentAN-0010
Herunterladen Herunterladen
Interferogramm-Skalierfaktor
DocumentAN-0015
Herunterladen Herunterladen
Silbernes Beschichtungs-Spray
DocumentAN-0016
Herunterladen Herunterladen
Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
Herunterladen Herunterladen
Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
Herunterladen Herunterladen
Prüfung von finit konjugierten Linsen
DocumentAN-0019
Herunterladen Herunterladen
Prüfung zylindrischer Optiken
DocumentAN-0020
Herunterladen Herunterladen
MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
DocumentAN-0021
Herunterladen Herunterladen
img1
Leitfaden für Systeme mit großer Apertur (12/18/24/32 Zoll)
Titel
Dokument
Herunterladen
Leitfaden für Systeme mit großer Apertur (12/18/24/32 Zoll)
DocumentOMP-0579H
Herunterladen Herunterladen
img1
Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
img1
101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
img1
Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
img1
Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
img1
Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
img1
Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
img1
Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
img1
Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
Titel
Dokument
Herunterladen
Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen
Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
Herunterladen Herunterladen