Infrarot-Interferometer
At-Wavelength-Messungen für anspruchsvollste IR-Bildgebungsanwendungen
Optische Bildgebungsanwendungen sind vielfältig. Die Prüfung der Wellenlänge eines Systemdesigns ist wesentlich für die Entwicklung, finale Ausrichtung und Qualifizierung.
Nachtsicht, IR und Wärmebildgebungssysteme für Raumfahrt und Verteidigung, Lithografie-Subsysteme, Fernerkundungsteleskope sowie die Qualifikation exotischer Materialien stellen eine große Bandbreite von Wellenlängenanforderungen dar, die allesamt von der Prüfung der Wellenlänge des Designs mit einem Infrarot-Interferometer-System profitieren.
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ZYGO wird seit langem als Weltmarktführer für interferometrische Testgeräte anerkannt und hat viele, speziell ausgestattete interferometrische Systeme entworfen und gefertigt, einschließlich für NIR-, SWIR-, MWIR- und LWIR-Wellenlängen. ZYGO entwirft und fertigt außerdem zahlreiche Referenzoptiken (Messobjektive und Referenzflächen) für diese Wellenlängen.
Hauptmerkmale
- Großer Wellenlängenbereich:
- NIR: 1,053 µm & 1,064 µm
- SWIR: 1,55 µm
- MWIR: 3,39 µm
- LWIR: 10,6 µm
- Die QFAS-Ausrichtungsansicht nach Wellenlänge vereinfacht die Einrichtung von Infrarot-Testsystemen und -Komponenten.
- Die QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, ermöglicht zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen und ist für NIR- SWIR- und MWIR-Modelle erhältlich.
- Die optionale DynaPhase® Sofortdatenerfassung für schwingungsunempfindliche Messungen eignet sich für die schwierigsten Umgebungen.
Messung asphärischer Oberflächen
Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
Prüfung mit streifendem Einfall
Interferogramm-Skalierfaktor
Silbernes Beschichtungs-Spray
Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
Prüfung von finit konjugierten Linsen
Prüfung zylindrischer Optiken
MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
Prüfung von Pentaprismen
Subtraktion von Messobjektiv-Referenzdaten
Kritische Ausrichtung von Referenzflächen
Kritische Ausrichtung von Messobjektiven
Verwendung statischer Streifendaten in PHom.app
Unterdrückung schwarzer Oberflächen bei sphärischen Kavitäten
Abbildung der Cats-Eye-Position in der Zwei-Sphären-Prüfung
Kritische Ausrichtung von Aperturwandlern
PV versus RMS
RMS-Multiplikatoren für Seidel-Koeffizienten
PVr - Ein robuster Amplituden-Parameter
Ultrasphere™ und Ultraflat™ Zernike-Korrektur
Verwendung der Auto-Fokus-Funktion mit nicht von ZYGO stammenden Messobjektiven
Verständnis der PV-Spezifikation
Zertifizierbare Vollbereichs-Kalibrierung von planen Referenzoptiken
DynaPhase™-Einrichtungsanleitung
System zur kohärenten Artefaktunterdrückung (CARS)
Titel
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
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Unterdrückung schwarzer Oberflächen bei sphärischen Kavitäten
DocumentAN-0027
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Abbildung der Cats-Eye-Position in der Zwei-Sphären-Prüfung
DocumentAN-0028
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Verwendung der Auto-Fokus-Funktion mit nicht von ZYGO stammenden Messobjektiven
DocumentAN-0039
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Zertifizierbare Vollbereichs-Kalibrierung von planen Referenzoptiken
DocumentAN-0051
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Verifire IR 1,06 µm
Verifire IR 3,39 µm
Verifire™ MST 1550 nm
Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
DocumentInterEval.pdf
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
DocumentTechnische Abhandlung
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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