Infrarot-Interferometer

At-Wavelength-Messungen für anspruchsvollste IR-Bildgebungsanwendungen

Verifire-Interferometer, Infrarot-WellenlängenOptische Bildgebungsanwendungen sind vielfältig. Die Prüfung der Wellenlänge eines Systemdesigns ist wesentlich für die Entwicklung, finale Ausrichtung und Qualifizierung.

Nachtsicht, IR und Wärmebildgebungssysteme für Raumfahrt und Verteidigung, Lithografie-Subsysteme, Fernerkundungsteleskope sowie die Qualifikation exotischer Materialien stellen eine große Bandbreite von Wellenlängenanforderungen dar, die allesamt von der Prüfung der Wellenlänge des Designs mit einem Infrarot-Interferometer-System profitieren.

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ZYGO wird seit langem als Weltmarktführer für interferometrische Testgeräte anerkannt und hat viele, speziell ausgestattete interferometrische Systeme entworfen und gefertigt, einschließlich für NIR-, SWIR-, MWIR- und LWIR-Wellenlängen.  ZYGO entwirft und fertigt außerdem zahlreiche Referenzoptiken (Messobjektive und Referenzflächen) für diese Wellenlängen.

Hauptmerkmale

  • Großer Wellenlängenbereich:
    • NIR:  1,053 µm & 1,064 µm
    • SWIR:  1,55 µm
    • MWIR:  3,39 µm
    • LWIR: 10,6 µm
  • Die QFAS-Ausrichtungsansicht nach Wellenlänge vereinfacht die Einrichtung von Infrarot-Testsystemen und -Komponenten.
  • Die QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, ermöglicht zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen und ist für NIR- SWIR- und MWIR-Modelle erhältlich.
  • Die optionale DynaPhase® Sofortdatenerfassung für schwingungsunempfindliche Messungen eignet sich für die schwierigsten Umgebungen.
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Laser Interferometers
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Laser Interferometers
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Laser Interferometers
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Laser Interferometers
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Verifire™ MST IR
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Verifire™ IR 3390
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Verifire™ IR 10600
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Laser Interferometer Accessory Guide
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Interactive Transmission Sphere Selector
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Interferogram Interpretation and Evaluation Guide
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Horizontal Radius Metrology Specs
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Transmission Sphere Selection Guide
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Typical Interferometer Setups Guide
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Transmission Spheres Specs
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Laser Interferometers
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Verifire™ IR 3390
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Interactive Transmission Sphere Selector
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Messung asphärischer Oberflächen
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
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Prüfung mit streifendem Einfall
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Interferogramm-Skalierfaktor
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Silbernes Beschichtungs-Spray
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
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Prüfung zylindrischer Optiken
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MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
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Prüfung von Pentaprismen
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Subtraktion von Messobjektiv-Referenzdaten
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Kritische Ausrichtung von Referenzflächen
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Kritische Ausrichtung von Messobjektiven
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Verwendung statischer Streifendaten in PHom.app
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Unterdrückung schwarzer Oberflächen bei sphärischen Kavitäten
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Abbildung der Cats-Eye-Position in der Zwei-Sphären-Prüfung
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Kritische Ausrichtung von Aperturwandlern
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PV versus RMS
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RMS-Multiplikatoren für Seidel-Koeffizienten
img1
PVr - Ein robuster Amplituden-Parameter
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Ultrasphere™ und Ultraflat™ Zernike-Korrektur
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Verwendung der Auto-Fokus-Funktion mit nicht von ZYGO stammenden Messobjektiven
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Verständnis der PV-Spezifikation
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Zertifizierbare Vollbereichs-Kalibrierung von planen Referenzoptiken
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DynaPhase™-Einrichtungsanleitung
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System zur kohärenten Artefaktunterdrückung (CARS)
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Messung asphärischer Oberflächen
DocumentAN-0007
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Bestimmung der Messbarkeit von Asphären
DocumentAN-0008
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Prüfung mit streifendem Einfall
DocumentAN-0010
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Interferogramm-Skalierfaktor
DocumentAN-0015
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Silbernes Beschichtungs-Spray
DocumentAN-0016
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Prüfung zylindrischer Oberflächen mit computergenerierten Hologrammen
DocumentAN-0017
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Streifenanalyse versus Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentAN-0018
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Prüfung von finit konjugierten Linsen
DocumentAN-0019
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Prüfung zylindrischer Optiken
DocumentAN-0020
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MetroPro®-Zylinderwerkzeuge
DocumentAN-0021
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Prüfung von Pentaprismen
DocumentAN-0022
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Subtraktion von Messobjektiv-Referenzdaten
DocumentAN-0023
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Kritische Ausrichtung von Referenzflächen
DocumentAN-0024
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Kritische Ausrichtung von Messobjektiven
DocumentAN-0025
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Verwendung statischer Streifendaten in PHom.app
DocumentAN-0026
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Unterdrückung schwarzer Oberflächen bei sphärischen Kavitäten
DocumentAN-0027
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Abbildung der Cats-Eye-Position in der Zwei-Sphären-Prüfung
DocumentAN-0028
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Kritische Ausrichtung von Aperturwandlern
DocumentAN-0029
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PV versus RMS
DocumentAN-0030
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RMS-Multiplikatoren für Seidel-Koeffizienten
DocumentAN-0031
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PVr - Ein robuster Amplituden-Parameter
DocumentAN-0037
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Ultrasphere™ und Ultraflat™ Zernike-Korrektur
DocumentAN-0038
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Verwendung der Auto-Fokus-Funktion mit nicht von ZYGO stammenden Messobjektiven
DocumentAN-0039
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Verständnis der PV-Spezifikation
DocumentAN-0040
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Zertifizierbare Vollbereichs-Kalibrierung von planen Referenzoptiken
DocumentAN-0051
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DynaPhase™-Einrichtungsanleitung
DocumentAN-0061
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System zur kohärenten Artefaktunterdrückung (CARS)
DocumentAN-0065
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Verifire IR 1,06 µm
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Verifire IR 3,39 µm
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Verifire™ MST 1550 nm
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
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Verifire IR 1,06 µm
DocumentOMP-0627A
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Verifire IR 3,39 µm
DocumentOMP-0629A
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Verifire™ MST 1550 nm
DocumentOMP-0481A
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Interpretation und Auswertung von Interferogrammen
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
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Ein Prüfinstrument für die Form optischer Oberflächen der nächsten Generation für Massenproduktions-Anwendungen
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Eine Betrachtung ausgewählter Themen in der interferometrischen Optikmessung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolute interferometrische Prüfung sphärischer Oberflächen
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
Titel
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Lösungen für die umgebungsresistente interferometrische Optikprüfungen
DocumentTechnische Abhandlung
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101-Bildalgorithmus für die Phasenverschiebungsinterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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Absolute Abstandsmessungen mittels FTPSI mit einem breitbandig abstimmbaren IR-Laser
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Absolutmessung von rotationssymmetrischen asphärischen Oberflächen
DocumentTechnische Abhandlung
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Anpassbare Kohärenztiefe an einem geometrisch unempfindlichen Interferometer
DocumentTechnische Abhandlung
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
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Anwendung optischer Kohärenz in der interferometrischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
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