Computergeneriertes Hologramm (CGH)
Komplexe Asphärenmetrologie ideal für Produktionsmengen geeignet
Advances in diamond turning and small-tool deterministic polishing have dramatically increased optical manufacturing capabilities to produce nearly any surface shape. Designers have leveraged these capabilities by increasingly designing aspheric optics into imaging, sensing and laser systems to improve performance and reduce size and weight of optical systems.
Fortschritte beim Diamantdrehen und deterministischen Polieren mit kleinen Werkzeugen haben die Möglichkeiten der Optikfertigung zur Herstellung nahezu beliebiger Oberflächenformen dramatisch verbessert. Konstrukteure haben sich diese Möglichkeiten zunutze gemacht, indem sie zunehmend asphärische Optiken in Bildgebungs-, Sensor- und Lasersysteme eingebaut haben, um die Leistung zu verbessern und die Größe und das Gewicht optischer Systeme zu verringern.
Ein CGH (Computer Generated Hologram) ist ein optisches Nullelement, das eine einzigartige Wellenfront erzeugt und die interferometrische Prüfung komplexer optischer Oberflächen ermöglicht, einschließlich Freiform-, Gullwing- und außeraxiale asphärische Formen.
Die Produkte Verifire VTS und Verifire™ Asphere von Zygo eignen sich ideal für CGH-Anwendungen für Asphären und Freiformoptiken auf Produktionsniveau.
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Das Verifire™ MST ermöglicht hochpräzise Messungen der Oberflächenform und übertragenen Wellenfront von optischen Komponenten und Linsensystemen. Es ist das einzige kommerzielle Interferometer, das mehrere Oberflächen gleichzeitig messen kann, dabei die relativen Oberflächeninformationen beibehält und schnelle sowie einfache Ergebnisse von mehreren Oberflächen bereitstellt.
Hauptmerkmale
- Gleichzeitige Charakterisierung von Oberfläche und Wellenfront sowie präzise Oberflächen-zu-Oberflächen-Messung wie TTV und Keil
- Oberflächen- und Dickequalifizierung von Testteilen bis zu einer minimalen Stärke von 0,5 mm
- Große laterale Auflösung, einschließlich pixelbegrenzten Designs für eine optimale ITF
- 1,2k × 1,2k (mit diskretem Zoomrevolver für optischen Zoom bis 3X)
- 2,3k × 2,3k
- 3,4k × 3,4k
- In Betriebswellenlängen von 633 nm bis 1,053 µm, 1,064 µm und 1,55 µm erhältlich
- Die QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, ermöglicht zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen und ist für die Erfassung mit Wellenlängenverschiebung und FTPSI auf mehreren Oberflächen erhältlich.
- Das standardmäßig enthaltene Artefaktverringerungssystem eliminiert verzerrende Mittelpunkte und reduziert kohärentes Rauschen.
