ZeGage™ Pro

Produktionsbereites optisches 3D-Profilometersystem

Optisches 3D-Profilometer ZeGage™ Pro HR

Die optischen 3D-Profilometer ZeGage™ Pro und ZeGage™ Pro HR erlauben die berührungslose Messung und Charakterisierung von Merkmalen vieler Arten von Oberflächen im Mikro- und Nanometerbereich und stellen so die Qualitätskontrolle sowie die Prozessüberwachung in Ihrer Produktionsumgebung sicher.

Unsere branchenführende ZeGage™ Pro-Produktreihe setzt den Standard hinsichtlich Leistung, Benutzerfreundlichkeit, Flexibilität und Präzision bei industriellen, berührungslosen Oberflächen-Profilometern im Tischformat. Aufbauend auf ZYGOs eigener CSI-Technologie bietet das ZeGage™ Pro innovative Technologien für eine präzise, zuverlässige, einfache und sichere Oberflächenmessung.

Exklusive Funktionen sind unter anderem die SureScan™-Technologie für schwingungsresistente Messungen, Part Finder und Smart Setup für eine vereinfachte Einrichtung von Teilen und optimierte Messungen.  Es war nie einfacher, eine große Bandbreite von Oberflächen und Teilen schnell und einfach zu messen.

Lesen Sie mehr dazu, wie Sie von der Leistungsfähigkeit, Vielseitigkeit und dem Mehrwert des ZeGage™ Pro-Systems profitieren können.

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 Hohe Leistung

  • Die urheberrechtlich geschützte berührungslose Messtechnologie wird durch die SureScan™ Technologie für geringe Empfindlichkeit gegenüber Schwingungen und eine einfache Platzierung an einem beliebigen Ort in Ihrer Einrichtung ergänzt.
  • Die quantitative Oberflächenmesstechnik mit Präzision im Nanometerbereich bietet überragende Messfunktionen.
  • Der hochauflösende Bildsensor mit 1,9 Millionen Pixel ermöglicht schnelle Bereichsmessungen in Sekunden mit hervorragenden Oberflächendetails und hochgradiger Visualisierung.
  • Vollständig automatisierte Messsequenzen und Bildzusammenführungen sorgen für eine hochauflösende Inspektion von großen Flächen. (Erfordert optionalen motorisierten Probentisch.)

Vielseitigkeit

  • Misst eine Vielzahl von Oberflächenmaterialien und -parametern, einschließlich 2D- und 3D-Profiling der Oberflächentextur, -form, -stufenhöhe und mehr.
  • Die enthalten Mx™ Software enthält umfassende Tools für die Visualisierung und Analyse der Oberflächendaten und eine entsprechende Berichterstellung.
  • Erweitern Sie den Messbereich Ihrer Investition mit Zubehör wie Objektivrevolvern, manuellen und motorisierten Probentischen und optionalen Software-Modulen für Folientopografie-Profiling und 2D-Analyse mithilfe von Cognex VisionPro®.

Produktivität und Nutzen

  • Die Smart Setup-Technologie verringert die Schulungsdauer und verkürzt den Teilewechsel durch automatisierte Teilesuche, Lichteinstellungen und Scankonfiguration. Smart Setup gibt in der Regel innerhalb von 1 Minute nach Platzierung der Probe unter dem Objektiv eine erste Datenabbildung zurück.
  • Das Preis-Leistungs-Verhältnis ist im Vergleich zu alternativen Systemen, einschließlich mechanischen Profilometern mit Kontaktstift, sehr gut.
  • Eine berührungslose Messung heißt, dass keine Kosten für den Ersatz von Verbrauchsmitteln entstehen.
  • Kompakte, schwingungstolerante SureScan™ Technologie für eine einfache Integration überall in Ihrer Einrichtung.
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
Titel
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
DocumentAN-0001
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
DocumentAN-0002
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
DocumentAN-0012
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
DocumentAN-0013
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Filterung beim NewView™
DocumentAN-0014
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PV-Performance von Dünnschichten zur Trübungskontrolle
DocumentAN-0041
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Bedienungsanleitung ZeGage™ Pro & ZeGage™ Pro HR
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
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Mx™-Kurzanleitung
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Mx™-Referenzleitfaden
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
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Mx™-Oberflächentexturparameter
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Bedienungsanleitung ZeGage™ Pro & ZeGage™ Pro HR
DocumentOMP-0619B
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
DocumentOMP-0594J
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Mx™-Referenzleitfaden
DocumentOMP-0550D
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
DocumentOMP-0600A
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Mx™-Oberflächentexturparameter
DocumentOMP-0608C
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
DocumentArtikel
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
DocumentTechnische Abhandlung
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Herausforderungen und Lösungen bei der optischen Messung von Asphären
DocumentTechnische Abhandlung
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Charakterisierung von Materialien und Schichtstapeln zur präzisen Messung der Oberflächentopografie mittels eines optischen Weißlicht-Profilometers
DocumentTechnische Abhandlung
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