Optische 3D-Profilometer von OEMs

Nutzen und integrieren Sie unsere branchenführende Technologie

Optischer 3D-Profilometersensor für OEMsSie benötigen präzise, berührungslose Oberflächenmessungen und -prüfungen in Hochgeschwindigkeit? Sind Sie ein OEM-Hersteller oder Systemintegrator, der eine Partnerschaft mit einem führenden Unternehmen eingehen möchte, das über die nötige Erfahrung verfügt, um Ihren Erfolg sicherzustellen? Optische 3D-Profilometer von ZYGO sind nun als vollständig integrierbare Lösung mit einer langjährigen Geschichte vieler erfolgreicher Produktionsintegrationen erhältlich.

Warum eine Partnerschaft mit ZYGO?

Wir verfügen über jahrzehntelange Erfahrung in der Arbeit mit OEM-Herstellern und bieten kritische In-Line-Messtechnik, Prüftechnik und Prozesskontrolle für moderne Fertigungsanwendungen. Unsere hauptsächlich bedienten Branchen sind unter anderem:

  • WEITERE INFORMATIONEN
  • BROSCHÜREN &
    DATENBLÄTTER
  • ANWENDUNGS-
    HINWEISE
  • HANDBÜCHER
  • TECHNISCHE ABHANDLUNGEN
  • VIDEOS

Warum Technologie von ZYGO?

Wir sind Experten in der Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI). Unsere innovativen und differenzierten Geräte ermöglichen die präzisesten und schnellsten Messungen der Oberflächentopografie. 3D-Oberflächenrauheit, Stufenhöhen, Flachheit, Schichtstärke, Mikrogeometrien und vieles mehr können bis in den Sub-Nanometer-Bereich gemessen werden – mit einer einzigen Sensorlösung.

  • Hochgeschwindigkeitsscans und -datenverarbeitung für optimalen Durchsatz.
  • Vollständig automatisierte Funktionalität und Steuerung aller Hardware-Systeme.
  • Fernzugriff-API für einfache und vollständige Steuerung der Mx™ Software.
  • Integriertes Python-Skripting für benutzerdefinierte Funktionen und Analysen.

Unser erfahrenes Team aus Ingenieuren und Wissenschaftlern bespricht gern Ihre Anforderungen und messtechnischen Bedürfnisse und kann optimale Konfigurationen empfehlen, die Ihre spezifischen Anforderungen an Geschwindigkeit, Sichtfeld und Teilegeometrie erfüllen. Wir freuen uns auf die Partnerschaft mit Ihnen in Ihrem nächsten erfolgreichen Programm.

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Folienanalyse mit der Mx™-Software
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
Titel
Dokument
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
DocumentAN-0001
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
DocumentAN-0002
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
DocumentAN-0003
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
DocumentAN-0012
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
DocumentAN-0013
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Filterung beim NewView™
DocumentAN-0014
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PV-Performance von Dünnschichten zur Trübungskontrolle
DocumentAN-0041
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
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Mx™-Kurzanleitung
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Mx™-Referenzleitfaden
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
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Mx™-Oberflächentexturparameter
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
DocumentOMP-0594J
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Mx™-Referenzleitfaden
DocumentOMP-0550D
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
DocumentOMP-0600A
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Mx™-Oberflächentexturparameter
DocumentOMP-0608C
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
DocumentArtikel
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
DocumentTechnische Abhandlung
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
DocumentTechnische Abhandlung
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Herausforderungen und Lösungen bei der optischen Messung von Asphären
DocumentTechnische Abhandlung
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Charakterisierung von Materialien und Schichtstapeln zur präzisen Messung der Oberflächentopografie mittels eines optischen Weißlicht-Profilometers
DocumentTechnische Abhandlung
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