Nexview™ NX2

Optisches 3D-Profilometersystem Nexview NX2Für anspruchsvollste Anwendungen entwickelt, kombiniert das optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 eine herausragende Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Flexibilität beim Anwendungsbereich sowie Automatisierung in einem einzigen Paket, das das modernste Profilometer für Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI) von ZYGO darstellt.

Die komplett berührungslose Technologie optimiert die Rendite, indem sie bei allen Vergrößerungen Präzision im Sub-Nanometerbereich bietet und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare Technologien auf dem Markt. Mit so vielseitigen Anwendungen wie Flachheit, Rauheit und Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhe und mehr auf praktisch jeder Oberfläche und jedem Material ist das Nexview NX2 ein Profilometer, mit dem Sie keine Kompromisse eingehen müssen.

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Als Flaggschiff der neuesten Generation bietet Nexview™ NX2 eine Vielzahl von differenzierten Funktionen, die auf eine schnellere, bessere und zuverlässigere Messtechnik des Nutzers abzielen:

  • Dank des großflächigen Sensors mit 1,9 Millionen Pixel und hoher Empfindlichkeit können Sie in einer Messung mehr erfassen.
  • Hochgeschwindigkeitsmessungen dauern nur wenige Sekunden und verbessern dadurch die Produktivität und Prozesskontrolle.
  • Die Fokus- und Einrichtungsautomatisierung minimiert anwenderspezifische Schwankungen und verkürzt die notwendigen Schulungen, so dass Daten schneller verfügbar sind.
  • Die überragende Messleistung ermöglicht beispiellose Präzision und Wiederholbarkeit für die anspruchsvollsten Produktionsanwendungen.
  • Schwingungsresistente Messtechnik mit SureScan-Technologie und integrierter Isolation sorgt für hochwertige Messungen selbst in schwingungsanfälligen Umgebungen.
  • SmartPSI™ Technologie ermöglicht ultraschnelles Profiling von glatten Oberflächen.
  • 2D- und 3D-Korrelation sorgt für zuverlässige Messungen mit Ergebnissen gemäß den Normen ISO 25178 und ISO 4287.
  • Mithilfe der Mx™ Software werden Gerätesteuerung, Analyse und Messautomatisierung zum Kinderspiel.
  • Die Visualisierung wird durch True-Color-Bildgebung unterstützt.
  • Der variable Bildzoom mit drei beiliegenden Zoom-Objektiven optimiert das Sichtfeld und maximiert die Geräteflexibilität.

Das einzige Profilometer, das Sie benötigen

Optisches 3D-Profilometersystem Nexview NX2

Sie müssen Ihr Profilometer nicht mehr basierend auf der zu messenden Art der Oberfläche auswählen. Das Profilometer Nexview™ NX2 misst die Topografie praktisch jeder Oberfläche, von superpolierten optischen Flächen mit Rauheit im Sub-Angström-Bereich bis hin zu steilen Bearbeitungswinkeln bis 85 Grad. Die gesamte Messung erfolgt in 3D und vollkommen ohne Berührung und bietet die Vorzüge aller Profiling-Technologien (Stylus, konfokale Mikroskopie, Focus-Scannen) ohne deren Nachteile.

Zusätzliche Anwendungsmodule für spezifische Anforderungen, wie die Messung bei vorhandenen transparenten Folien und die 2D-Bildanalyse, sind für Kunden erhältlich, die diese Funktionen benötigen.

Automatisierter Betrieb

Das Profilometer Nexview™ NX2 ist ein Fly-by-Wire-Tool ohne manuelle Steuerelemente. Es kann also mithilfe von programmierten Sequenzen vollständig automatisiert werden, um mehrere Bereiche einer Fläche, mehrere Teile in einer Schale oder größere Flächen zu messen, indem mehrere Messungen in einer einzigen zusammengeführt werden.

Sauberes und rationalisiertes Design

Das Profilometer Nexview™ NX2 besitzt einen großen Arbeitsbereich mit klaren Sichtlinien, um Messeinrichtungen und Umrüstungen zu vereinfachen und zu beschleunigen.

Sein automatisierter und integrierter 200-mm-Messtisch ist der Inbegriff eines sauberen und effizienten Industriedesigns. Das Gerät besitzt einen um ±4 Grad neigbaren, belastbaren Tisch mit parazentrischer Korrektur. Das vereinfacht die Ausrichtung der zu messenden Oberfläche, selbst bei Proben ohne Merkmale. 

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Folienanalyse mit der Mx™-Software
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
Titel
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
DocumentAN-0001
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
DocumentAN-0002
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
DocumentAN-0003
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
DocumentAN-0012
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
DocumentAN-0013
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Filterung beim NewView™
DocumentAN-0014
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PV-Performance von Dünnschichten zur Trübungskontrolle
DocumentAN-0041
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Bedienungsanleitung Nexview™ NX2
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Nexview™ NX2 Návod k obsluze
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Nexview™ NX2 Mode d’emploi
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Nexview™ NX2 Manuale di istruzioni
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Nexview™ NX2 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
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Nexview™ NX2 İşletim Kılavuzu
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
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Mx™-Kurzanleitung
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Bedienungsanleitung Nexview™ NX2
DocumentOMP-0618C
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Nexview™ NX2 Návod k obsluze
DocumentOMP-0618A (Tschechisch)
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Nexview™ NX2 Mode d’emploi
DocumentOMP-0618A (Französisch)
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Nexview™ NX2 Manuale di istruzioni
DocumentOMP-0618A (Italienisch)
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Nexview™ NX2 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
DocumentZYG18-003 (Italienisch)
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Nexview™ NX2 İşletim Kılavuzu
DocumentOMP-0618A (Türkisch)
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
DocumentOMP-0594J
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Mx™-Referenzleitfaden
DocumentOMP-0550D
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
DocumentOMP-0600A
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
DocumentTechnische Abhandlung
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Herausforderungen und Lösungen bei der optischen Messung von Asphären
DocumentTechnische Abhandlung
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Charakterisierung von Materialien und Schichtstapeln zur präzisen Messung der Oberflächentopografie mittels eines optischen Weißlicht-Profilometers
DocumentTechnische Abhandlung
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