NewView™ 9000

Das optische 3D-Oberflächen-Profilometer NewView™ 9000 bietet leistungsstarke Vielseitigkeit beim berührungslosen optischen Oberflächen-Profiling. Mit diesem System können eine Vielzahl von Oberflächentypen einfach und schnell gemessen werden, einschließlich glatter, rauer, flacher, geneigter und stufiger Oberflächen. Sämtliche Messungen erfolgen zerstörungsfrei, schnell und erfordern keine Probenvorbereitung.

Den Kern des Systems bildet die Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI)-Technologie von ZYGO, welche bei allen Auflösungen Präzision im Sub-Nanometerbereich bietet, eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser messen kann als alle sonstigen auf dem Markt verfügbaren Technologien und so Ihre Rendite optimiert.

Leistung, Mehrwert und Vielseitigkeit

Flexibilität ist das Markenzeichen der NewView-Produkte von ZYGO. Das Profilometer NewView 9000 bietet einen herausragenden Mehrwert für Anwendungen, die Flachheit, Rauheit und Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen und mehr umfassen.

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Die brandneuen NewView™ 9000-Profilometer sind mit einem Tripel-Zoom-Revolver ausgestattet, der mit diskreten und speziell für das System gefertigten Zoom-Optiken bestückt werden kann. Die Konfigurationen des Probentischs reichen von vollständig manuell bis vollständig automatisiert mit codiertem Hub.

Unabhängig von Ihrer Konfiguration bieten alle NewView™ 9000-Systeme hochgenaue und schnelle Messungen sowie Benutzerfreundlichkeit zu einem attraktiven Preis, der das System zur idealen Wahl für Vielseitigkeit und Mehrwert unter den optischen 3D-Profilometern macht.

Einige der differenzierten Funktionen zielen darauf ab, die Messung besser, schneller und zuverlässiger zu machen. Zu diesen Funktionen gehören u. a.: 

  • Ein großflächiger Sensor mit 1,9 Millionen Pixel und hoher Empfindlichkeit, mit dem Sie in einer Messung mehr erfassen
  • Hochgeschwindigkeitsmessungen, die nur wenige Sekunden dauern und dadurch die Produktivität und Prozesskontrolle verbessern
  • Fokus- und Einrichtungsautomatisierung für minimale anwenderspezifische Schwankungen und kürzere Schulungen, so dass Daten schneller verfügbar sind
  • Überragende Messleistung bei beispielloser Präzision und Wiederholbarkeit für die anspruchsvollsten Produktionsanwendungen.
  • Schwingungsresistente Messtechnik mit SureScan-Technologie und integrierter Isolation für hochwertige Messungen selbst in schwingungsanfälligen Umgebungen
  • SmartPSI™ Technologie für ultraschnelles Profiling von extrem glatten Oberflächen
  • 2D- und 3D-Korrelation für zuverlässige Messungen mit Ergebnissen gemäß den Normen ISO 25178 und ISO 4287.
  • Mx™ Software zur Gerätesteuerung, Analyse und Messautomatisierung

Flexible Konfigurationen

NewView 9000 Tisch & ArbeitsbereichDas Profilometer NewView™ 9000 besitzt einen offenen Arbeitsbereich mit klaren Sichtlinien, um Messeinrichtungen und Umrüstungen zu vereinfachen und zu beschleunigen. Die Systeme können mit einer Vielzahl von Probentischen ausgestattet werden, die von vollständig manuellen X/Y- und Neigungstischen bis hin zu automatisierten Tischen mit 150 mm Hub und einer Neigung von 4 Grad reichen. Dank des integrierten Isolationssystems und der kompakten Größe eignet sich das System hervorragend für den Betrieb auf Arbeitstischen. Mithilfe des optionalen Stativs und der Workstation kann ein ideales Produktionssystem geschaffen werden.

 

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NewView™ 9000
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Zubehörleitfaden für optische 3D-Profilometer
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3D Optical Profilers
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Nexview™ NX2, NewView™ 9000, ZeGage™ Pro-Objektive
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NewView™ 9000
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NewView™ 9000
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Zubehörleitfaden für optische 3D-Profilometer
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3D Optical Profilers
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Nexview™ NX2, NewView™ 9000, ZeGage™ Pro-Objektive
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NewView™ 9000
DocumentSpezifikationen
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
Titel
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
DocumentAN-0001
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
DocumentAN-0002
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
DocumentAN-0003
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
DocumentAN-0006
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PSD-Analyse
DocumentAN-0009
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Vision-Softwarepaket
DocumentAN-0011
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
DocumentAN-0012
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
DocumentAN-0013
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Filterung beim NewView™
DocumentAN-0014
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PV-Performance von Dünnschichten zur Trübungskontrolle
DocumentAN-0041
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Bedienungsanleitung NewView™ 9000
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NewView™ 9000 Mode d’emploi
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Bedienungsanleitung NewView™ 9000
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NewView™ 9000 Manuale di istruzioni
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NewView™ 9000 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
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NewView™ 9000 İşletim Kılavuzu
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
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Mx™-Kurzanleitung
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Bedienungsanleitung NewView™ 9000
DocumentOMP-0617C
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NewView™ 9000 Mode d’emploi
DocumentOMP-0617A (Französisch)
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Bedienungsanleitung NewView™ 9000
DocumentOMP-0617A (Deutsch)
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NewView™ 9000 Manuale di istruzioni
DocumentOMP-0617A (Italienisch)
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NewView™ 9000 CE DICHIARAZIONE DI CONFORMITÀ
DocumentZYG18-001 (Italienisch)
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NewView™ 9000 İşletim Kılavuzu
DocumentOMP-0617A (Türkisch)
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
DocumentOMP-0594J
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Mx™-Referenzleitfaden
DocumentOMP-0550D
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
DocumentOMP-0600A
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
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Herausforderungen und Lösungen bei der optischen Messung von Asphären
DocumentTechnische Abhandlung
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Charakterisierung von Materialien und Schichtstapeln zur präzisen Messung der Oberflächentopografie mittels eines optischen Weißlicht-Profilometers
DocumentTechnische Abhandlung
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