Compass™

Mikrolinsen-Messsysteme

ZYGOs Compass™-Messsysteme setzen den Standard für automatisierte, berührungslose 3D-Oberflächenmessungen und Prozesskontrolle für diskrete Mikrolinsen und Formteilen, welche kritisch für kompakte Bildgebungssysteme wie etwa Sichtsysteme für Automobile und Kameras für Smartphones und Tablets sind.

Die Compass™-Systeme sind in zwei Modellen verfügbar, je nach Ihren Messanforderungen...

  • Compass – ZYGOs erweiterte Lösung für die Präzisionsmessung der Form und Abweichung, Topografie sowie der relationalen/dimensionalen Parameter der Oberflächen von Mikrolinsen. Die ideale Wahl für Anwendungen, welche eine vollständige Charakterisierung sphärischer oder asphärischer Mikrolinsen und ihrer Ausrichtungsmerkmale erforderlich ist.
  • Compass RT-MesssystemCompass RT – Ein schnelles und flexibles System für die Präzisionsmessung der relationalen/dimensionalen Parameter von Mikrolinsen sowie allgemeine Profilometrie-Anwendungen. Die ideale Wahl, wenn Messungen der Formabweichung benötigt werden.

Leistungsstarke Analysesoftware

Die Compass-Systeme basieren auf ZYGOs umfassender Mx™-Software-Plattform und bieten die wichtigsten Funktionen für die Datenerfassung, Analyse und Visualisierung sowie die Automatisierung der Messgeräte-Hardware. Die multifunktionale Architektur des Compass-Systems unterstützt Messungen einer großen Bandbreite von Teilen und Messparametern, einschließlich Formstiften und diskreter Linsen.

  • WEITERE INFORMATIONEN
  • BROSCHÜREN &
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    HINWEISE
  • HANDBÜCHER
  • TECHNISCHE ABHANDLUNGEN
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Produktionsbewährte Technologien

Das Herz des Compass Systems bildet die optische Profilometertechnologie von ZYGO basierend auf Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI), die branchenführende Präzision, Vielseitigkeit und Geschwindigkeit für wiederholbare Messungen und optimale Prozesskontrolle bietet. Für Compass™ und Compass™ RT einzigartig ist die Messung von asphärischen Formen und Abweichungen sowie die relationale/dimensionale Messung von Ausrichtungsmerkmalen.

Form und Abweichung

  • Berührungslose 3D-Abbildung der vollständigen Oberflächenform von sphärischen oder asphärischen Linsen und Linsen-Formteilen
  • Höhenpräzision im Sub-Nanometer-Bereich für Oberflächenform und -abweichung mit Millionen von Datenpunkten
  • Erweiterte Analyse der Formabweichung vom Design
  • Schnelle und automatisierte Erkennung von Prozessasymmetrien
Linse-Festpunkt-Charakterisierung

Relationale/dimensionale Messtechnik

  • Quantitative Messung und Inspektion von mechanischen Designmerkmalen ein einzel- und doppelseitigen Linsenelementen
  • Festpunkt- und Linse-Festpunkt-Charakterisierungen
  • Durchmesser der Zentrierungskante
  • Flachheit, Stärke, Parallelismus und Keil des ringförmigen Festpunktes
  • Scheitelhöhe, Zentrierung, mittlere Stärke und Scheitel-Scheitel-Zentrierung der Linse 
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Compass
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Zubehörleitfaden für optische 3D-Profilometer
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3D Optical Profilers
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Nexview™ NX2, NewView™ 9000, ZeGage™ Pro-Objektive
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Compass
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Compass
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Zubehörleitfaden für optische 3D-Profilometer
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3D Optical Profilers
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Nexview™ NX2, NewView™ 9000, ZeGage™ Pro-Objektive
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Compass
DocumentSpezifikationen
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
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PSD-Analyse
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Vision-Softwarepaket
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
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Filterung beim NewView™
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PV-Performance von Dünnschichten zur Trübungskontrolle
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Messung von Photovoltaikanlagen mit einem NewView™
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Messung mit einem optischen Verteiler an einem NewView
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Messung gehonter Oberflächen mit einem NewView
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Messung von Diesel-Kraftstoffeinspritzdüsen
Titel
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Folienanalyse mit der Mx™-Software
DocumentAN-0001
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Messungen der Oberflächentextur im Sub-Angström-Bereich
DocumentAN-0002
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Messung dynamischer MEMS-Geräte
DocumentAN-0003
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Erkennung und Kontrolle von Schwingungen
DocumentAN-0006
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PSD-Analyse
DocumentAN-0009
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Vision-Softwarepaket
DocumentAN-0011
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ABS-Geometrie und MetroPro®-Berechnungen
DocumentAN-0012
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Das Optimum aus modernen Texturanwendungen herausholen
DocumentAN-0013
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Filterung beim NewView™
DocumentAN-0014
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PV-Performance von Dünnschichten zur Trübungskontrolle
DocumentAN-0041
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Messung von Photovoltaikanlagen mit einem NewView™
DocumentAN-0044
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Messung mit einem optischen Verteiler an einem NewView
DocumentAN-0052
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Messung gehonter Oberflächen mit einem NewView
DocumentAN-0053
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Messung von Diesel-Kraftstoffeinspritzdüsen
DocumentAN-0100
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Bedienungsanleitung Compass™
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Bedienungsanleitung Compass™ RT
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
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Mx™-Kurzanleitung
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Mx™-Referenzleitfaden
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
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Mx™-Oberflächentexturparameter
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Bedienungsanleitung Compass™
DocumentOMP-0612A
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Bedienungsanleitung Compass™ RT
DocumentOMP-0613A
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Zubehörleitfaden für optische Profilometer (für NewView 8/9000 & Nexview/NX2)
DocumentOMP-0594J
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Mx™-Kurzanleitung
DocumentOMP-0570D
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Mx™-Referenzleitfaden
DocumentOMP-0550D
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Mx™-Leitfaden für Fernzugriff
DocumentOMP-0600A
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Mx™-Oberflächentexturparameter
DocumentOMP-0608C
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
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Fortschritte bei der optischen Messtechnik
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Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
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Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
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Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
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Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
DocumentArtikel
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Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
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Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
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DocumentTechnische Abhandlung
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DocumentTechnische Abhandlung
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Herausforderungen und Lösungen bei der optischen Messung von Asphären
DocumentTechnische Abhandlung
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Charakterisierung von Materialien und Schichtstapeln zur präzisen Messung der Oberflächentopografie mittels eines optischen Weißlicht-Profilometers
DocumentTechnische Abhandlung
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