Compass™

Mikrolinsen-Messsysteme

ZYGOs Compass™-Messsysteme setzen den Standard für automatisierte, berührungslose 3D-Oberflächenmessungen und Prozesskontrolle für diskrete Mikrolinsen und Formteilen, welche kritisch für kompakte Bildgebungssysteme wie etwa Sichtsysteme für Automobile und Kameras für Smartphones und Tablets sind.

Die Compass™-Systeme sind in zwei Modellen verfügbar, je nach Ihren Messanforderungen...

  • Compass – ZYGOs erweiterte Lösung für die Präzisionsmessung der Form und Abweichung, Topografie sowie der relationalen/dimensionalen Parameter der Oberflächen von Mikrolinsen. Die ideale Wahl für Anwendungen, welche eine vollständige Charakterisierung sphärischer oder asphärischer Mikrolinsen und ihrer Ausrichtungsmerkmale erforderlich ist.
  • Compass RT-MesssystemCompass RT – Ein schnelles und flexibles System für die Präzisionsmessung der relationalen/dimensionalen Parameter von Mikrolinsen sowie allgemeine Profilometrie-Anwendungen. Die ideale Wahl, wenn Messungen der Formabweichung benötigt werden.

Leistungsstarke Analysesoftware

Die Compass-Systeme basieren auf ZYGOs umfassender Mx™-Software-Plattform und bieten die wichtigsten Funktionen für die Datenerfassung, Analyse und Visualisierung sowie die Automatisierung der Messgeräte-Hardware. Die multifunktionale Architektur des Compass-Systems unterstützt Messungen einer großen Bandbreite von Teilen und Messparametern, einschließlich Formstiften und diskreter Linsen.

  • WEITERE INFORMATIONEN
  • BROSCHÜREN &
    DATENBLÄTTER
  • ANWENDUNGS-
    HINWEISE
  • HANDBÜCHER
  • TECHNISCHE ABHANDLUNGEN
  • VIDEOS

Produktionsbewährte Technologien

Das Herz des Compass Systems bildet die optische Profilometertechnologie von ZYGO basierend auf Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI), die branchenführende Präzision, Vielseitigkeit und Geschwindigkeit für wiederholbare Messungen und optimale Prozesskontrolle bietet. Für Compass™ und Compass™ RT einzigartig ist die Messung von asphärischen Formen und Abweichungen sowie die relationale/dimensionale Messung von Ausrichtungsmerkmalen.

Form und Abweichung

  • Berührungslose 3D-Abbildung der vollständigen Oberflächenform von sphärischen oder asphärischen Linsen und Linsen-Formteilen
  • Höhenpräzision im Sub-Nanometer-Bereich für Oberflächenform und -abweichung mit Millionen von Datenpunkten
  • Erweiterte Analyse der Formabweichung vom Design
  • Schnelle und automatisierte Erkennung von Prozessasymmetrien
Linse-Festpunkt-Charakterisierung

Relationale/dimensionale Messtechnik

  • Quantitative Messung und Inspektion von mechanischen Designmerkmalen ein einzel- und doppelseitigen Linsenelementen
  • Festpunkt- und Linse-Festpunkt-Charakterisierungen
  • Durchmesser der Zentrierungskante
  • Flachheit, Stärke, Parallelismus und Keil des ringförmigen Festpunktes
  • Scheitelhöhe, Zentrierung, mittlere Stärke und Scheitel-Scheitel-Zentrierung der Linse 
img1
Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
img1
Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
img1
Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
img1
Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
img1
Fortschritte bei der optischen Messtechnik
img1
Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
img1
Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
img1
Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
Titel
Dokument
Download-Link
Optische 3D-Profilometer ermöglichen zuverlässigen Leichtbau von Motoren
DocumentArtikel
Download Link Herunterladen
Eine neue Klasse von Weitfeldobjektiven für die 3D-Interferenzmikroskopie
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Genaue, wiederholbare, lineare Bewegung von vorgespannten piezoelektrischen Aktoren
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Moderne Messtechnik für Energieeffizienz
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Fortschritte bei der optischen Messtechnik
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Winkelaufgelöste, dreidimensionale Analyse von Folien durch Kohärenz-Scaninterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Anwendung modellbasierter Analysen für Folien mit transparenter Oberfläche mittels Kohärenz-Scaninterferometrie
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Kalibrierung des Vergrößerungskoeffizienten in der Interferenzmikroskopie mittels eines Wellenlängenstandards
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Herausforderungen und Lösungen bei der optischen Messung von Asphären
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen
Charakterisierung von Materialien und Schichtstapeln zur präzisen Messung der Oberflächentopografie mittels eines optischen Weißlicht-Profilometers
DocumentTechnische Abhandlung
Download Link Herunterladen

X
Durch die weitere Nutzung dieser Webseite stimmen Sie unserer Datenschutzerklärung und Cookie-Richtlinie zu.
OK